第一列

通用量子電腦硬體技術
A世代半導體技術：矽基量子計算次系統開發

       本計畫以開發矽基量子計算使用之電路晶片次系統，並製作高品質矽基量子元件為目標。本計畫包含三個子項主題：

    1. 開發cryo-CMOS量子位元驅動/讀取電路晶片次系統。
    2. 建立CMOS電晶體元件之低溫操作與電路模型。
    3. 研製高品質、具穩定操作特性之矽基量子點元件。

       本計畫之執行 ，除為矽基自旋量子位元之實現建立基礎外，並期妥適結合台灣研發、設計及製作優勢，於未來量子電腦需大量操控電路之際，能以此晶片次系統技術取得量子產業關鍵地位。

Project Introduction

圖示扼要說明本計畫各子項目標與未來技術發展之關聯性。

團隊組成
  • 共同主持人
  • 蔡瀚輝（台灣半導體研究中心）
  • 吳文發（台灣半導體研究中心）
  • 李峻霣（國立臺灣大學電子工程學研究所）
技術亮點
Cryo-CMOS 4K低溫量測系統
  • 此技術欲解決問題：
    傳統低溫電子量測設備只能提供到約攝氏零下-40度之測試環境，Cryogenic晶片量測一般是將晶片浸泡在液態氮或液態氦之鋼瓶之中，然而此方法所能提供之晶片測試空間非常狹小，且傳輸訊號數量也受到限制，無法提供多樣及多數量之輸入輸出。
  • 重要性/突破性：
    建構台灣第一套4 K低溫量測系統，測試樣本可用空間45x20平方公分，可支援數位/類比/RF之晶片量測，頻寬最高可達40 GHz，並配置32條RF同軸線與60條DC雙絞線以提供系統訊號及偏壓使用。
  • 與計畫未來研發方向的關聯性：
    提供Cryogenic低溫量測環境，可支援數位/類比/RF電路晶片或整合系統單晶片之量測，同時兼具溫度控制功能，可變溫度範圍為3K至80K，可支援各種Cryogenic電路設計驗證相關之計畫。

Cryo-CMOS 4K低溫量測系統

4 K低溫量測系統，包含4K溫控系統以及數位/類比/RF量測設備